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回路から未来をつくる研究室へようこそ!

イスラム研究室では、「低消費電力回路」と「次世代コンピューティング技術」をテーマに研究しています。 IoT機器やエッジデバイスなど、これからの社会で欠かせない分野で、省エネルギーなのに高性能な電子システムを実現することを目指しています。

研究の対象は、スマホやパソコンに欠かせない電源回路(LDOなど)、アナログとデジタルを組み合わせた混載回路、そしてコンピューティング・イン・メモリ(CIM)や確率的コンピューティングといった新しい計算方式まで幅広いです。 「回路設計」と聞くと難しく感じるかもしれませんが、基礎から応用までしっかり取り組めるので、安心して挑戦できます。

研究室は2024年4月にスタートしたばかりの新しい研究室です。 情報通信系野の中で、「物理」と「最先端技術」の両方を体験できる数少ない環境です。 従来のアナログ回路設計は、少ない部品を組み合わせてパラメータを調整することが中心でしたが、 今はアナログとデジタルを融合させて“システムとしての回路設計”を行う時代です。 そのおかげで、これまでできなかった新しい機能がどんどん実現できるようになっています。

プログラミングが好きな人、物理に興味がある人、新しいことに自由に挑戦したい人──幅広く募集しています。 見学や相談も大歓迎ですので、気軽に研究室を訪ねてください。 一緒にワクワクする研究室を作っていきましょう!

  1. Shun Yamaguchi, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada, “Low-Power Design of Digital LDO With Non-linear Symmetric Frequency Generation,” IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2022. (DOI: 10.1109/TCSII.2022.3184774)
  2. Takehiro Kitamura, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada, “Order statistics based low-power flash ADC with on-chip comparator selection,” IEICE Transactions on Fundamentals, Vol.E105-A, No.11, pp.-, Nov. 2022.
  3. Shogo Harada, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada, “A process scalable voltage-reference-Free temperature sensor utilizing MOSFET threshold voltage variation,” in IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), Nov. 2021, pp. 1-3.
  4. Teruki Someya, A.K.M. Mahfuzul Islam, Takayasu Sakurai, and Makoto Takamiya, “An 11-nW CMOS Temperature-to-Digital Converter Utilizing Sub-Threshold Current at Sub-Thermal Drain Voltage,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 54, no. 3, pp. 613-622, March 2019.
  5. A. K. M. Mahfuzul Islam, Tatsuya Nakai, and Hidetoshi Onodera, “Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Measurement,” IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 30, no. 3, pp. 216-226, 2017.
  6. A.K.M. Mahfuzul Islam, Jun Shiomi, Tohru Ishihara, and Hidetoshi Onodera, “Wide-Supply-Range All-Digital Leakage Variation Sensor for On-chip Process and Temperature Monitoring,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 50, no. 11, pp. 2475-2490, 2015.
  7. Shuuichi Fujimoto, A.K.M. Mahfuzul Islam, Takashi Matsumoto, and Hidetoshi Onodera, “Inhomogeneous Ring Oscillator for Within-Die Variability and RTN Characterization,” IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 26, no. 3, pp. 296-305, 2013. 
  8. A.K.M. Mahfuzul Islam, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, and Hidetoshi Onodera, “Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Global Process Parameter Variation,” IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 25, no. 4, pp. 571-580, 2012.